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        TOKAMAK光譜診斷與我們的產品

        更新更新時間:2019-01-31 點擊次數:2712

        TOKAMAK光譜診斷與我們的產品

                       ——從中子,X-ray到可見光,從穩態測量到超高速時間分辨測試

         

        托卡馬克(Tokamak)是一種利用磁約束來實現受控核聚變的環形容器,初是由蘇聯庫爾恰托夫研究所的阿齊莫維齊等人在20世紀50年代發明的。托卡馬克的中央是一個環形的真空室,外面纏繞著線圈,在通電的時候會產生巨大的螺旋型磁場,將真空室中的等離子體加熱到很高的溫度,以達到發生核聚變反應所需的條件。

         

        托卡馬克裝置中等離子體溫度可以達到幾千萬甚至上億攝氏度,從X射線到微波波段均有很強的輻射。聚變等離子體的輻射探測,特別是從X射線到可見光波段的發射光譜診斷,是發展比較早的診斷項目之一。從電子在躍遷前后的狀態來看,聚變等離子體發射的光譜可分類為:

        自由態→自由態:軔致輻射、回旋輻射

        束縛態→束縛態:線輻射

        自由態→束縛態:復合輻射、雙電子輻射

        其中軔致輻射、復合輻射和雙電子輻射是連續譜,回旋輻射和線輻射是線狀譜。復合輻射和雙電子輻射有時合稱復合輻射。等離子輻射的線狀譜線主要來自雜質離子。在小型裝置上,等離子體線輻射主要是低 Z 的輕雜質,而在大中型裝置上,線輻射則主要來自未*電離的高 Z 金屬雜質離子。

         

        在等離子體參數較低的小型托卡馬克裝置上,等離子體的輻射主要位于真空紫外和可見光波段。下圖為捷克一個小托卡馬克裝置 CASTOR 中的等離子體發射光譜,主要在真空紫外和可見光波段。其線狀譜主要是 O,NC 的雜質譜線。從等離子體發射光譜圖上可以較為容易地辨別等離子體中雜質的種類和電離狀態。以 C 為例,譜線上標志的光譜符號和相應的電離態的關系如下表所示:

         

        而在大中型裝置上,等離子體輻射逐漸向短波移動,主要探測區域為紫外、真空紫外和 X 射線。在大中型裝置上,芯部區域的 C、N和 O等輕雜質離子的外層電子被*剝離。而高Z金屬雜質離子由于電離能較高,并未*電離,仍可以在較短波段(紫外和X射線波段)觀測到其輻射的線狀譜線。不同區域的光譜行為和主要探測項目也有所不同。這些波段的范圍、分光方法、探測元件可見下圖:

        國內的合肥,武漢,成都等地的科研單位也運行著多個托卡馬克裝置。坐落在合肥的中科院等離子體物理研究所的EAST裝置是目前國內大的一個托卡馬克,其多項等離子體放電指標均處于先進水平。在上,中美歐日韓印俄七方共同參與的超大型合作項目熱核實驗堆(ITER)計劃已經進入工程建造階段,目前進展順利。

        我們的相關儀器設備在托卡馬克等離子體光譜診斷領域有著大量的應用,目前已經應用我們產品的的診斷系統包含:

        • 電荷符合交換光譜(CXRS)診斷
        • 湯姆遜(Thomson)散射
        • 運動斯塔克(Stark)效應診斷
        • 中性束注入主動光譜診斷
        • 磁流體動力學(MHD)真空紫外成像診斷
        • 用于測量邊界旋轉的邊界被動光譜診斷系統

        我們可以用于托卡馬克等離子體光譜診斷的設備包括:

        • 傳統CT光譜儀用于可見與NIR波段以及多道成像光譜
        • >=1m長焦距高分辨光譜儀用于高分辨與多道成像光譜
        • 真空紫外光譜儀
        • ICCD用于時間分辨光譜與影像
        • iSCMOS快速讀出ICCD
        • EMCCD微弱信號探測增強型CCD
        • High Speed ICCD高速ICCD,讀出速度可以達到10000f/s以上,并且具備時間分辨能力
        • MCP粒子探測器可以用于真空粒子探測
        • 基于中階梯的LIBS探測系統
        • 傳統X-ray CCD探測器
        • 單光子計數X-ray探測器
        • 條紋相機用于超快過程研究
        • 高速相機用于高速現象研究

        用于測量邊界旋轉的邊界被動光譜診斷與獲得的多道光譜圖像(100道)

         

        中性注入光譜診斷測量得到的可見光波段光譜

         

        基于大面積PILUTUS探測器的X射線彎晶譜儀測量到的原始譜線圖像

        不同的診斷可以測量不同的等離子體參數。按照診斷種類不同,我們有不同推薦使用的設備:

        測量參數

        診斷系統名

        測量區域

        推薦設備

        雜質離子溫度

        X射線彎晶譜儀

        電荷符合交換光譜

        邊界被動光譜診斷

        芯部

        邊界和芯部

        邊界

         

         

        EMCCD

        >=1m長焦距高分辨光譜儀

        主離子溫度

        中子診斷系統

        電荷符合交換光譜

        邊界被動光譜診斷

        芯部

        邊界和芯部

        邊界

        中子成像探測器

         

        EMCCD

        >=1m長焦距高分辨光譜儀

        電子溫度

        湯姆遜散射診斷

        電子回旋輻射診斷

        X射線彎晶譜儀

        邊界朗繆爾探針

        邊界和芯部

        芯部

        芯部

        刮削層區

        iSCMOS / 超高速ICCD

        電子密度

        HCN激光反射儀

        湯姆遜散射診斷

        二氧化碳散射

        微波反射儀

        邊界朗繆爾探針

        邊界和芯部

        邊界和芯部

         

        邊界

        邊界

         

        像增強器 & ICCD & 光譜儀等

        環向雜質旋轉速度

        X射線彎晶譜儀

        電荷符合交換光譜

        邊界被動光譜診斷

        芯部

        邊界和芯部

        邊界

         

        EMCCD

        >=1m長焦距高分辨光譜儀

        EMCCD

        環向主離子旋轉速度

        X射線彎晶譜儀

        電荷符合交換光譜

        邊界磁探針

        邊界

        邊界和芯部

        安全因子q=1詞磁面

        PILATUS探測器

        EMCCD

         

        向雜質旋轉速度

        邊界被動光譜診斷

         

         

        電荷符合交換光譜

        邊界

         

         

        邊界和芯部

        EMCCD

        >=1m長焦距高分辨光譜儀

        EMCCD

        雜質密度

        邊界被動光譜診斷

         

         

        電荷符合交換光譜

        X射線彎晶譜儀

        紫外真空紫外譜儀

        邊界

         

         

        邊界和芯部

        芯部

        芯部

        EMCCD

        >=1m長焦距高分辨光譜儀

        EMCCD

         

        真空紫外光譜儀系統

        美國McPherson長焦距光譜儀

         

        美國McPherson公司真空紫外光譜儀

        英國Photek公司像增強器與MCP真空成像探測器

         

        Dectris-PILATUS系列單光子X射線探測器

         

        快速讀出ICCD與超高速讀出ICCD(搭配Phantom公司高速讀出探測器) 

        Andor公司傳統CT式光譜儀與EMCCD

         

        基于Photonic Science公司中子成像ICCD拍攝到的中子成像實驗圖

        CYCLOPS, A proposed high flux CCD neutron diffractometer, Physica B Condensed Matter 385:1052-1054 2005

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