目前有些
高靈敏度雙通道光度計的生產廠商只測試220nm處的雜散光不測試340nm處的雜散光，這是不對的。測試220nm處雜散光的理由是：
，根據量子光學理論，波長是能量的倒數，波長短能量大，容易產生雜散光，而220nm處屬于短波部分；
第二，根據儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小，容易顯現雜散光；
第三，根據儀器學理論中的光電發射理論，光電倍增管在220nm處的光譜響應（靈敏度）低，容易顯現雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的，因為340nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調換濾光片的地方，此時容易產生雜散光。所以，對于高靈敏度雙通道光度計來講，應該測試220nm和340nm兩處的雜散光。
高靈敏度雙通道光度計儀器設計的理論依據是比耳定律。研究的是物質對光的吸收。紫外可見分光光度計是研究物質對平行、單色光吸收的儀器。它主要以定量分析為主，也可以進行定性分析工作。一般用于研究（分析）物質的含量，如對物質的定量檢測、純度檢查等。除非常簡單的化合物外，一般不能僅用紫外可見分光光度計一種儀器來決定被分析物質的性質。如果要做定性分析，要決定一種質的性質或結構，需要多種儀器（如紫外、紅外、質譜、色譜、甚至波譜、核磁共振等）組合使用，才能做定性或結構分析。實際上，紫外可見分光光度計儀器和原子吸收分光光度計儀器的設計理論依據是*一致的，只是儀器的結構不同而已。
由于不同的物質對不同波長光有不同的吸收度，其吸收曲線形狀和大吸收波長λmax不同；但同一種物質即使濃度不同，其吸收曲線形狀仍相λmax不變。因此，根據光譜圖上吸收光譜的形狀等特征就可以進行定性分析，吸收曲線是物質定性的基礎。
但由于溶劑對電子光譜有較大的影響，且影響較為復雜。改變溶劑的極性，會引起吸收帶形狀的變化。例如，當溶劑的極性由非極性改囊到極性時，大多數化合物的紫外可見吸收光譜精細結構消失，吸收帶變得更為平滑。改變溶劑的極性，還會使吸收帶的大吸收波長λmax發生變化。因此，在采用紫外可見吸收光譜進行定性分析時，高靈敏度雙通道光度計應注意考慮溶劑等條件。此外，由于相當數量化合物的紫外可見吸收光本身的特征性了見分光光度計一般不單獨用于對未知化合物定性，而作為一種輔助的定性手段。
